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簡(jiǎn)要描述：日本三豐Mitutoyo粗糙度測量?jì)xSV-3200配有多種參數。評估型表面粗糙度測量?jì)x同時(shí)配置分析功能。●裝置配備FORMTRACEPAK表面粗糙度/輪廓分析程序。●標配高分辨率的Z1軸檢出器，高顯示分辨力為0.0001µm （測量范圍為8µm時(shí)）。Z1軸的高顯示分辨力為0.0001µm （測量范圍為8µm時(shí)）。
更新時(shí)間：2024-08-01產(chǎn)地類(lèi)別：國產(chǎn)廠(chǎng)商性質(zhì)：經(jīng)銷(xiāo)商訪(fǎng) 問(wèn) 量：2521
產(chǎn)品分類(lèi)
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| 品牌 | MITUTOYO/三豐 | 產(chǎn)地類(lèi)別 | 進(jìn)口 |
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日本三豐Mitutoyo粗糙度測量?jì)xSV-3200
日本三豐Mitutoyo粗糙度測量?jì)xSV-3200
配有多種參數。 評估型表面粗糙度測量?jì)x同時(shí)配置 分析功能。
●裝置配備FORMTRACEPAK表面粗糙度/輪 廓分析程序。
●標配高分辨率的Z1軸檢出器，高顯示 分辨力為0.0001µm (測量范圍為8µm時(shí))。 Z1軸的高顯示分辨力為0.0001µm (測量 范圍為8µm時(shí))。
●X軸驅動(dòng)裝置裝配高精度玻璃光柵尺，實(shí) 現X軸方向移動(dòng)的高精準定位。SV-3200 系列為驅動(dòng)裝置采用陶瓷導軌以提高抗 磨性，延長(cháng)使用壽命。
●X軸的分辨力為0.05µm。
●標準或低測力檢出器(4mn/0.75mN)的選 擇，無(wú)需考慮設備本體是否有裝配傾斜 裝置。
●裝備有可變*檢出器姿態(tài)(向上/橫向)的 支架(選件）。
●Y軸工作臺(選件)可對應3D粗糙度測量。
●驅動(dòng)裝置中的DAT功能可以輕松調整測 量工件的水平。
基本技術(shù)參數:
基座尺寸(WxH):750x600mm或1000x450mm
基座材料:花崗巖
重量
主機:140kg(S4),150kg(H4),220kg(W4)140kg(S8),150kg(H8),220kg(W8)
控制器:14kg
遙控箱:0.9kg
電源:100–240VAC±10%,50/60Hz
能耗:400W(主機)
注: 雖然天然石材測量桌的外觀(guān)各有不同，但材料的穩定性是值得信賴(lài)的。
*1: 手動(dòng)操作也可用。
地址：江蘇省常州市新北區太湖東路9-4號D座812
郵箱：m13914345792@163.com
傳真：86-519-85182197
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