日本三豐SV-2100系列表面粗糙度輪廓測量儀

日本三豐SV-2100系列表面粗糙度輪廓測量儀

Surftest (表面粗糙度測量儀) SV-2100
178 系列 — 帶有控制/ 裝置型表面粗糙度測量儀
高精度，高性能友好界面，操作更簡單。

產品特點：

•顯示一目了然，操作簡單。配備可見度7.5英寸TFT LCD屏幕。彩色圖標顯示、觸控式面板，顯示更清晰，操作更簡單。

•輕松定位使用控制器內置的操縱桿，輕松、快速地定位。小孔內側的測量，需要對微小測頭進行微調。利用手動手柄，實現輕松微調。

•輕松設置表面粗糙度的測量條件。利用配備的簡單輸入功能，可按照ISO/JIS粗糙度標準的繪圖指令符號進行輸入。以往非常麻煩的測量條件設置如今可輕松輸入，從菜單上直接選取表面粗糙度的繪圖指令符號即可。

技術參數：

X軸(驅動部)

測量范圍: 100mm

分辨率: 0.05μm

檢測方法:線性編碼器

驅動速度: 0 - 40mm/s

測量速度: 0.02 - 5mm/s

移動方向:向后

直線度: 0.15μm / 100mm Z2軸(立柱)

類型:手動操作或電驅動

垂直移動: 350mm或550mm*

分辨率*: 1μm

檢測方法*:旋轉編碼器

驅動速度*: 0 - 20mm/s *僅適于電驅動型檢測器

范圍／分辨率: 800μm / 0.01μm, 80μm / 0.001μm,8μm / 0.0001μm

檢測方法:無軌／有軌測量

測力: 4mN或0.75mN (低測力型)

測針針尖:金剛石、90o/ 5μmR (60o/ 2μmR:低測力型)

導頭曲率半徑: 40mm

檢測方法:差動電感式控制器

顯示: 7.5"帶背光的TFT彩顯

打印機:內置熱敏打印機

放大倍率:水平: X10至X500,000、自動垂直: X0.5至X10,000、自動

驅動裝置的控制:通過操縱桿手動手柄的操作

評估能力：

評估輪廓P (主輪廓), R (表面粗糙度輪廓), WC, WCA, WE, WEA,包絡殘余線、粗糙度motif、波形motif評估參數Ra, Rc, Ry, Rz, Rq, Rt, Rmax, Rp, Rv, R3z, Sm, S, Pc, mr(c), dc, mr,tp, Htp, Lo, Ir, Ppi, HSC, Da, Dq, Ku, Sk, Rpk, Rvk, Rk, Mr1, Mr2,A1, A2, Vo, la, lq粗糙度motif參數: R, AR, Rx波形motif參數: W, AW, Wx, Wte分析圖表ADC, BAC,功率譜圖數顯濾波器2CR-75%, PC-75%、高斯濾波器、魯棒樣條截止波長ls: 0.25μm, 0.8μm, 2.5μm, 8μm, 25μm, 250μm、無濾波器lc*: 0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm lf: 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm、無濾波器采樣長度(L)* 0.025mm, 0.08mm, 0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm, 25mm, 80mm (僅適于SV-2100)數據補償功能拋物線補償、雙曲線補償、橢圓補償、R平面(曲面)補償、錐面補償、傾斜補償*在0.02mm至50mm的范圍內可任意長度。

日本三豐SV-2100系列表面粗糙度輪廓測量儀

性能參數：